大家好～中国地质大学材料与化学学院2026年硕士研究生入学考试复试《现代测试技术》考试大纲已经公布！接下来跟着小编一起看看具体内容吧~
试卷结构（题型比例）
简答题约60%
计算或证明约20%
论述或其它约20%
现代测试技术
《现代测试技术》的考试范围包含晶体学基础、X射线分析、电子显微分析、光谱分析和热分析，涉及的仪器包括X射线粉晶衍射仪、X射线荧光光谱仪、X射线光电子能谱仪、扫描电子显微镜、透射电子显微镜、红外光谱仪、拉曼光谱仪和热分析仪。具体考试内容及要求如下。
一、晶体学基础
考试内容
名词解释：晶体、点群、相当点、空间格子、晶向、面网、晶面族、多重因子、晶带、晶带轴、空间群、等效点系、公共点、倒易点阵、倒易格子、倒易矢量、零层倒易阵面。
分析点群和空间群国际符号的含义、空间格子类型及结点坐标、计算面网间距、利用等效点系书写原子坐标、倒易矢量基本性质及证明、晶带定律推导、利用晶带定律求晶带轴或晶面。
考试要求
1.掌握晶体的概念、晶体的基本性质及晶体对称性，熟悉晶体宏观/微观对称要素及晶体分类（晶族、晶系、晶类）；
2.掌握点群和空间群国际符号的书写原则，会通过空间群的国际符号分析晶系和晶胞常数特点；
3.熟悉空间格子的四要素，熟悉行列、晶向、面网、晶面族、多重因子的概念，会书写晶向、晶面、晶面族、晶带轴的符号，熟悉空间格子类型，熟悉立方、四方、斜方晶系的面网间距计算；
4.掌握倒易点阵的概念，了解倒空间的构建和正倒格子的关系，熟练掌握倒易矢量的性质和晶带定律。
二、X射线分析
考试内容
解释特征X射线的产生原理、光电效应-荧光辐射、俄歇效应、X射线在晶体中的衍射原理，X射线与物质作用产生的各种信号及用途，布拉格方程及其推导，利用布拉格方程计算衍射峰的位置，厄瓦尔德图解法解释X射线在晶体中的衍射，利用结构因子推导消光规律，X射线衍射图谱与晶体结构的关系，X射线物相鉴定的依据，PDF卡片的用途，利用参比强度计算混合相中各物相的含量，利用谢乐公式计算纳米颗粒尺寸，解释一张包含了各种分析数据的X射线粉晶衍射图谱。
考试要求
1．理解X射线的产生原理，重点掌握特征X射线的产生原理；
2．掌握X射线与物质的相互作用过程，以及产生的各种信号及用途，重点掌握光电效应、荧光辐射和俄歇效应；
3．理解X射线荧光光谱仪、X射线光电子能谱仪及俄歇电子谱仪的检测原理及用途。
4．理解X射线在晶体中的衍射原理，明白衍射方向和衍射强度与晶体结构的关系；
5．熟练掌握描述衍射方向的布拉格方程及其含义，理解厄瓦尔德图解法；
6．掌握结构因子的消光规律，会利用结构因子判断某结晶物质能够产生衍射的晶面；
7．熟悉X射线衍射图谱，会解释图谱提供的各种信息；
8．掌握常用的X射线粉晶衍射图谱的应用，如物相定性定量分析、纳米颗粒尺寸的计算等。
三、电子显微分析
考试内容及要求
1.电子光学基础：熟悉电子波与电压的关系，掌握电磁透镜的聚焦原理、像差、景深和焦长；
2.电子束与物质的相互作用：电子束与物质作用产生的各种信号及用途，二次电子的成像原理，背散射电子的成像原理，能谱仪和波谱仪的检测原理；
3.扫描电子显微镜：了解扫描电子显微镜的结构，掌握扫描电子显微镜的用途；
4.透射电子显微镜的结构及工作原理：重点掌握透射电子显微镜的成像系统各部件的工作原理及作用，如物镜及物镜光阑，中间镜及中间镜光阑，成像操作和衍射操作，明场像及暗场像；
5.透射电子显微镜的电子衍射：理解电子衍射的厄瓦尔德图解法，掌握单晶电子衍射花样和多晶电子衍射花样的形成原理，会推导电子衍射的基本公式，认识单晶、多晶和非晶电子衍射花样；
6.透射电子显微镜的图像衬度：了解质厚衬度及其图像，掌握衍射衬度的形成原理，初步分析简单的明场像和暗场像，了解相位衬度形成的高分辨图像的形成原理，认识几种基本的高分辨图像；
7.其它电子显微术：理解高角环形暗场像的形成原理，认识电子能量损失谱图，了解电子能量损失谱的用途。
四、光谱分析
光谱分析涉及红外光谱和拉曼光谱，掌握红外光谱和拉曼光谱的产生原理，认识红外光谱图和拉曼光谱图，理解红外光谱与拉曼光谱的区别与联系。
五、热分析
掌握热重分析、差热分析和差示扫描量热法的基本原理，认识三种热分析曲线，根据分析曲线分析材料的热效应过程。
参考书：现代测试技术，陈洁渝、雷新荣、舒杼，武汉：中国地质大学出版社，2024.
